13286885940 (王先生)
13262995105(吳先生)
13916985299 (姚小姐)
TH2640A 耐沖擊精密電容測(cè)試儀特點(diǎn):
? 高穩(wěn)定性和一致性:20個(gè)量程配置
? 高功率:信號(hào)電平:20VAC/100mAAC
? 高速度:測(cè)試速度高達(dá)10ms(100次/秒)
? 高分辨:10.1英寸,分辨率1280*800,電容式觸摸屏
? 點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描三種測(cè)試方式
? 四參數(shù)測(cè)量
? 201點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能
? 圖形掃描功能,4軌跡任意選擇,支持1/2/4分屏
? 分選功能:LCR模式10檔分選
? 耐沖擊:抗沖擊電壓高達(dá)200V ? 高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,
兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A
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產(chǎn)品型號(hào) |
TH2640A |
TH2640B |
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顯示 |
顯示器 |
10.1 英寸電容觸摸屏 |
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比例 |
16:9 |
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分辨率 |
1280×RGB×800 |
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測(cè)量參數(shù) |
方式 |
四參數(shù)任意選擇 |
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AC |
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC |
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測(cè)試頻率 |
范圍 |
100Hz-500kHz |
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精度 |
0.01% |
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分辨率 |
1mHz (100.000Hz-999.999Hz) |
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10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz) |
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100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz ) |
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1Hz (100.000kHz-999.999kHz) |
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10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz) |
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AC 測(cè)試信號(hào)模式 |
額定值 (ALC OFF) |
設(shè)定電壓為測(cè)試端開路時(shí) Hcur 電壓 |
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設(shè)定電流為測(cè)試端短路時(shí)從 Hcur 流出電流 |
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恒定值 (ALC ON) |
保持 DUT 上電壓與設(shè)定值相同 |
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保持 DUT 上電流與設(shè)定值相同 |
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測(cè)試電平 |
電壓范圍 |
0Vrms-20Vrms |
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準(zhǔn)確度 |
±(10%×設(shè)定值 +2mV)(AC≤2Vrms) ±(10%×設(shè)定值 +5mV)(AC > 2Vrms) |
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分辨率 |
1mVrms (5mVrms-1Vrms) |
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10mVrms (1Vrms-20Vrms) |
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電流范圍 |
50μArms-100mArms |
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分辨率 (20Ω內(nèi)阻 ) |
10μArms (50μArms-10mArms) |
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100μArms (10mArms-100mArms) |
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測(cè)試端配置 |
五端 |
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測(cè)試電纜長(zhǎng)度 |
0m |
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輸出阻抗 |
20Ω,±4%@1kHz |
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數(shù)學(xué) 運(yùn)算 |
與標(biāo)稱值的**偏差Δ,與標(biāo)稱值的百分比偏差Δ% |
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等效方式 |
串聯(lián)、并聯(lián) |
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校準(zhǔn)功能 |
開路 OPEN、短路 SHORT、負(fù)載 LOAD |
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測(cè)量平均 |
1-255 次 |
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量程選擇 |
自動(dòng) AUTO、手動(dòng) HOLD |
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量程配置 |
50mΩ、100mΩ、200mΩ、500mΩ、1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、 1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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測(cè)量時(shí)間(ms) |
快速 : 10.4ms 中速 : 90.4ms 慢速 : 218ms |
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基本測(cè)量準(zhǔn)確度 |
0.05%(具體參考說明書) |
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測(cè)量顯示范圍 |
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Cs、Cp |
0.00001pF-9.99999F |
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Ls、Lp |
0.00001μH-99.9999kH |
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D |
0.00001-9.99999 |
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Q |
0.00001-99999.9 |
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R、Rs、Rp、X、Z |
0.001mΩ-99.9999MΩ |
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G、B、Y |
0.00001μs-99.9999S |
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θr |
-3.14159-3.14159 |
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θd |
-179.999° -179.999° |
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Δ% |
±(0.000%-999.9%) |
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多功能參數(shù)列表掃描 |
點(diǎn)數(shù) |
201 點(diǎn),每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均次數(shù),每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 |
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參數(shù) |
測(cè)試頻率、AC 電壓、AC 電流 |
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觸發(fā)模式 |
順序 SEQ:當(dāng)一次觸發(fā)后,在所有掃描點(diǎn)測(cè)量,/EOM/INDEX 只輸出一次 |
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步進(jìn) STEP:每次觸發(fā)執(zhí)行一個(gè)掃描點(diǎn)測(cè)量,每點(diǎn)均輸出 /EOM/INDEX,但列表掃描比較器結(jié)果只在*后的 /EOM 才輸出 |
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其他特點(diǎn) |
1. 掃描參數(shù)與測(cè)試參數(shù)都有多種復(fù)制功能 2. 每個(gè)掃描點(diǎn)均可設(shè)置延時(shí) 3. 結(jié)果顯示字體無極放大 |
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比較器 |
每個(gè)掃描點(diǎn)*多可測(cè)量四個(gè)測(cè)試參數(shù),每個(gè)參數(shù)均可設(shè)置上下限,所有測(cè)試參數(shù)都合格輸出 PASS 信號(hào),否則輸出 FAIL 信號(hào),未設(shè)上下限則不判斷 |
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TH2640A 耐沖擊精密電容測(cè)試儀應(yīng)用:
? 介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
? 磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
? 半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性